Sistem ini memiliki rentang pengukuran yang meningkat pesat, 3,3 kali lebih besar dibandingkan generasi sebelumnya. Selain itu, sistem ini dapat menangani komponen yang lebih tinggi dengan ketinggian maksimum 2,7 kali lebih besar dibandingkan generasi sebelumnya. Sistem terbaru ini memungkinkan pengukuran komponen besar dalam satu kali operasi.
Probe sentuh dengan tekanan pengukuran rendah dapat bergerak bebas secara vertikal, horizontal, dan pada sudut, memungkinkan pengukuran titik yang diinginkan dengan sentuhan lembut. Bahkan komponen dengan bentuk 3D dapat diukur secara akurat.
Fungsi laser multi-warna bawaan secara instan menangkap tinggi pada lokasi yang ditentukan pada komponen, memungkinkan pengukuran akurat tanpa terpengaruh oleh jenis bahan.
Panggung dan kepala dapat dipisahkan, memungkinkan Anda menggunakan kombinasi yang paling sesuai dengan kebutuhan pengukuran Anda. Kepala dengan berbagai pembesaran dan FOV serta tiga ukuran panggung tersedia.
* Rentang pengukuran berbeda-beda tergantung pada kombinasi kepala dan panggung. Pelajari selengkapnya di katalog.
Panggung dan kepala dapat dipisahkan, memungkinkan Anda menggunakan kombinasi yang paling sesuai dengan kebutuhan pengukuran Anda. Kepala dengan berbagai pembesaran dan FOV serta tiga ukuran panggung tersedia.
* Rentang pengukuran berbeda-beda tergantung pada kombinasi kepala dan panggung. Pelajari selengkapnya di katalog.
