Pembacaan ID Bingkai

Dalam proses manufaktur semikonduktor, membaca ID bingkai yang ditandai pada cincin wafer (bingkai potong) secara akurat sangat penting untuk memastikan keterlacakan dan kontrol kualitas yang menyeluruh. Namun, masalah umum adalah kode ID tergores atau lecet saat cincin ditumpuk untuk penyimpanan dan transportasi, yang menyebabkan seringnya kesalahan pembacaan dengan pembaca kode konvensional. Kegagalan pembacaan ini adalah masalah serius yang secara langsung menyebabkan penghentian lini produksi dan penurunan laju hasil.

Pembaca kode 1D/2D Seri SR-2000 KEYENCE memecahkan masalah ini. Dilengkapi dengan algoritma pembacaan canggih milik sendiri dan fungsi koreksi gambar yang kuat, alat ini dapat secara instan dan stabil membaca bahkan kode yang menantang dalam kondisi yang tidak menguntungkan seperti goresan, kotoran, dan kontras rendah. Hal ini secara signifikan mengurangi risiko penghentian lini karena kesalahan pembacaan dan berkontribusi besar pada peningkatan produktivitas.

Selain itu, Seri SR-2000 mendukung bidang tampilan ultra-lebar dan pembacaan jarak jauh, memungkinkannya untuk menangkap ID secara andal bahkan di lingkungan di mana jarak dan posisi target dapat bervariasi. Tingkat kebebasan pemasangan yang tinggi membuatnya mudah dipasang pada peralatan yang sudah ada, memungkinkan manajemen item individual yang akurat dan peningkatan keterlacakan dalam manufaktur semikonduktor.