Deteksi posisi takik

Secara konvensional, sensor displacement laser 1D digunakan untuk mendeteksi posisi takik. Seiring dengan makin menipisnya wafer, pendeteksian menghadapi masalah bahwa titik tidak menyentuh takik saat lengkungan menjadi lebih besar. Laser garis Seri LJ-V dapat mengatasi ketidaksejajaran yang disebabkan oleh lengkungan wafer.

Profilometer Berbentuk Garis Berkecepatan Sangat Tinggi

Seri LJ-V7000

Kembali ke "Pemilihan Produk berdasarkan Industri dan Aplikasi"