Indonesia

Deteksi posisi takik wafer

Position detection of wafer notches

Sistem visi mendeteksi posisi rotasi takik wafer.

Resolusi kamera 5 Mega piksel dan algoritma bawaan alat Noda Tepi Tren ini memungkinkan deteksi takik secara stabil dan output data posisi serta dimensi.

Keuntungan

Sebuah kamera 2 Mega piksel digunakan untuk mendeteksi posisi takik, tetapi repetabilitas kamera tidak stabil. Dengan menggunakan sistem Seri XG, sebuah kamera kecepatan tinggi 5 Mega piksel dan alat Trend Edge Stain baru, takik dapat ditemukan secara stabil.

PELAJARI PERINCIAN PRODUK

  • Seri XG-8000 menggunakan teknologi sistem visi kelas tinggi yang memberikan fleksibilitas dan kemampuan menjawab aneka kebutuhan aplikasi.

  • Seri XG-7000 menawarkan pemrograman standar secara langsung dengan pengontrol atau pemrograman tingkat lanjut menggunakan perangkat lunak PC Vision Editor. (opsional)

  • Performa tinggi, sistem dengan tool yang mudah digunakan untuk pengaturan yang sederhana bagi setiap pengguna.

  • Seri CV-5000 memiliki kamera terbanyak dari berbagai tipe, sehingga Anda dapat memilih kamera terbaik untuk aneka kebutuhan aplikasi.

  • Menawarkan fleksibilitas optimum dengan berbagai jenis pilihan kamera yang menggunakan mesin pemroses gambar berperforma terbaik di bidangnya.