Orientasi wafer melalui viewport

Jajaran Seri LK-G menyertakan kepala sensor jarak sangat jauh yang dapat dipasang 1 m dari target. Hal ini memungkinkan pengukuran melalui viewport. Tinggi dan kemiringan wafer dalam ruang hampa atau lingkungan bersuhu tinggi dapat diukur secara akurat.

Sensor Pengukuran Laser CCD Berkecepatan Tinggi, Akurasi Tinggi

Seri LK-G3000

Kembali ke "Pemilihan Produk berdasarkan Industri dan Aplikasi"